100G 光接口和电接口发射机/接收机

泰克提供针对 100G 标准的全面 Tx 和 Rx 测试支持，同时提供对 NRZ 和 PAM4 信号以及复杂相干调制格式的测试指南。泰克测试仪器将让您的团队准备好应对下一波数据通信技术。

DPO70000SX 系列实时示波器能够高效验证您的技术进步、快速调试和验证 100G 电气技术标准。以低噪音本底和高采样率证明您的 100G 设计的性能。
- 最新！借助 MSO/DPO70000 示波器的 DPO7OE1 光探头，您可以通过添加强大的调试功能来轻松排除光设备故障：PAM4 和 NRZ 软件时钟恢复、触发、错误检测以及相关或连续信号采集的捕获时间。

DSA8300 系列采样示波器采用行业领先的内置光参考接收机，光信噪比 (OSNR) 极低，适用于准确检定光发射机性能，符合主流单模光接口标准。
- 最新！DSA8300 的 80C17 和 80C18 光模块可提供高模板测试灵敏度和低光噪声以及一些新功能，从而增加产量并加快当前 100G 设计的投产。
CR286A 时钟恢复仪器支持大多数 100Gbp/s 标准，可与泰克采样示波器和 BERT 配合使用，为准确的定时测量分析提供稳定的时钟。
BERTScope BSA 系列误码率测试仪提供 PRBS 信号的长码型生成，以及非常准确的 BER 测量结果和深层根本原因分析。

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Semtech 转为采用泰克 DSA8300 采样示波器检定新 25-28 Gb/s CDR 设备该客户案例研究展示了 Tektronix DataCom 测试解决方案为检定 100G 技术的电气性能带来的优势，并且该解决方案具有极低的本底噪声。
检定16G光纤通道速率的SFP+收发机研究根据16G光纤通道标准测试SFP+收发机所需的测量，同时覆盖多模850 nm接口和单模1310 nm接口。其中包括一个测试和检定实例，采用单模1310 nm激光器SFP+收发机及14.025 Gb/s的16G线速，同时采用一流的测试设备。
时钟恢复入门手册，第一部分从实践角度考察时钟恢复，重点介绍其对测量的影响，第一部分。
消光比(ER)校准白皮书本白皮书介绍了10 GbE (以太网)和SONET/SDH中高度准确的ER测量的部分好处，以及支持一致准确的ER结果的方法，其中10 GbE (以太网)对ER的要求相对较低。
385 GHz 条件下支持 32 Gbit/s QPSK 传输通过本白皮书中的高级信号编码（高达 QAM-16）和关键高级太赫兹设备，了解关于以 400 GHz (0.4 THz) 速率传输数据、打破世界纪录的无线系统的更多信息。
NRZ 和 PAM4 信令的光带宽要求直到最近，光带宽和电带宽产生的结果均类似，但是随着 IEEE 技术规格的最新变更，已不再存在这种情况。本白皮书阐明了这些术语，从数学层面展示了它们之间的关系，并为理解和正确计算光通道的光带宽和电带宽提供了基础。
克服 100G、400G 数据通信测试中的 SNDR 测量挑战随着 100G 和 400G 标准（IEEE 和 OIF-CEI）的发射机特性和测量方法的重大变化，了解有关 SNDR 及其优势、重要仪器考虑因素以及采集带宽对 SNDR 噪声参数的影响的更多信息，这一点至关重要。
《超低驱动电压硅行波调制器》（美国光学学会）硅平台正逐渐成为用于集成光子学的商业平台。如要直接与片上电子设备集成，需使用 1 Vpp 或更低的驱动电压。根据来自美国光学学会的此文章，DSA8300 系列示波器正用于验证宽带调制器在 20 Gb/s 速率时（驱动电压为 0.63 Vpp）的操作。
25 Gb/s信令测量方法本应用指南介绍了100 G系统中25+ Gb/s信令发射机和接收机检定和一致性测试的测量方法，重点是示波器测量，部分涉及BERT。
消除BER和眼图之间的空白 — BER廓线教程 BER廓线测量 - 这是什么，是怎样构建的，为什么为查看千兆位速度的参数性能提供了重要方式。
使用高性能AWG生成相干光信号了解AWG70000的仪器特点和性能水平对生成不同调制方式的影响，以及可以怎样利用该仪器的灵活性，补偿内部和外部器件不理想特点，仿真元器件和链路失真。
100 Gb/s通信系统物理层测试本应用指南介绍了怎样准备100G标准一致性测量，包括IEEE802.3ba，以及帮助您诊断不满足标准的元器件和系统及测量性能余量的多项测试。
高速串行技术中的PAM4信令：测试、分析和调试了解与PAM4技术有关的重要信息，以及泰克验证PAM4信号属性的测试方法。本应用指南介绍了50-400G应用中的PAM4技术，详细介绍了PAM4信令，介绍了光接口和电接口发射机评估，阐述了PAM4接收机评估方法，等等。
100G 和 400G 数据通信发射机测量为100G/400G 数据通信测试确定适当的测量工具 New! This application note walks through a number of common misconceptions and key considerations to help you select the proper scope technology (RTO vs. ETO) for your needs.

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Webinar: High Volume Optical Transceiver Validation Learn about the current challenges in testing optical transceivers in a high volume manufacturing setting, and see a demonstration of a transceiver test system for PAM4 characterization using the …
Webinar: PAM4 Optical Transceiver Characterization Watch as we discuss PAM4 optical transceivers, both 100G and 400G, including the latest on standards, testing, and characterization. We cover high throughput NRZ measurement and margin and compare …
PAM4 Electrical Webinar The accelerated development of 400G Ethernet technology is driving new requirements through the test community as it relates to measuring electrical PAM4 systems. This presentation will review PAM4 …
New Technologies for Probing Low Power Circuits Webinar As designs for mobile devices and computers use lower power circuits in their design, validation testing and debug become more challenging. Board and component density increase leaving little space …
NBASET and IEEE8023bz Technology and Measurements The rapid growth of ever-more powerful mobile devices, and the adoption of new wireless technologies such as 802.11ac, has enterprise networks struggling to keep pace. To meet these rising bandwidth …
Characterizing Coherent Optical Systems Webinar Learn about the coherent modulation being considered for 400G networks, the key building blocks of a coherent test system, how to optimize measurement accuracy and the benefits of customizable …