材料科学

如果您正在研发未来的材料或器件,比如硅化物半导体、太阳能电池薄膜、石墨烯等纳米材料,您便跻身于半导体技术、电子产品、医疗器械和卫生保健等新应用领域取得突破的前沿。让我们向您展示对这些高级材料进行准确电气检定的最新创新和技术,包括:

我们为新材料和器件电气检定提供的全面解决方案可以帮助您进一步发明创造,重塑我们的世界。您还可以查看泰克半导体设计制造解决方案。

泰克最新推出了吉时利4200A-SCS参数分析仪,将I-V和C-V测量速度提升两倍! 为下一个发现加速参数洞察力。先睹为快

码型数据库

Title
使用Model 2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统执行循环伏安测量

本应用指南介绍了使用2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统,利用内置测试脚本和电化学转换电缆配套工具箱执行循环伏安测量。

漏电流与绝缘阻测量
利用不同传导测试方法进行纳米材料的特性分析(英文3页)

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

霍尔效应测试系统(中文6页)
利用4200-SCS进行四探头电阻与霍尔电压测试
用 2450 型数字源表与四探针进行电阻测量
利用4200-SCS型参数分析仪,对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电气特性分析
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A
Title
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

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