DDR 测试、验证和调试

DDR 内存接口

新一代内存技术(如 DDR4 和 LPDDR4)带来了更快的速度、更低的 I/O 电压和各种外形,可满足不同的应用需求。结果产生了新的调试和验证挑战,包括更紧凑的余量、更快的边沿速率和复杂的总线协议。

泰克提供最完整的全套工具进行内存验证和调试:

  • DDR 电气验证:
    捕获、测量和检定 DDR 内存接口信号行为、抖动、眼图大小、串扰、选通/时钟对准、误码。
  • DDR 逻辑验证:
    捕获和测量 DDR 内存接口的数字逻辑状态,执行总线周期的定时和协议分析。

资料库

Title
DesignCon 2015技术文章 – 使用3端口和6端口S参数设计高性能插补器

本技术文章阐述了怎样使用多端口S参数,验证内存插补器设计。这可以帮助内存设计人员了解可以怎样从S参数中推导出部分性能特点,以及插补器与被测器件和探测系统之间的部分交互,从而在采用DDR4和LPDDR4的超快速内存系统中提高验证精度。

Tektronix P7700 TriMode探头支持被测设备焊接连接。 在这个视频中,您将学习到Tektronix推荐的焊接连接流程。

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新型P7700系列TriMode探头为实时示波器提供了探头的高保真度。 观看60秒视频,了解新型探头如何最大限度地减少噪声,并在狭窄空间内轻松测试。

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标题
DDR4/LPDDR4和下一代内存标准全新表征技术

本次网上研讨会介绍了最新的表征和调试技术,以分析最高的DDR4/LPDDR4速度等级(DDR4-3200/LPDDR4-4266)。

高效设计DDR4接口及电气化验证本次网上研讨会将介绍Cadence和泰克可以怎样让您实现灵活节能的DDR4 IP,介绍办公室中使用的设计和分析工具,以及为解决DDR4接口电气验证中的关键挑战所提供的实验室解决方案。
内存接口检验和调试本次网上研讨会将介绍怎样面向基于下一代DDR的内存测试做好准备。了解这些最新标准给电气检验带来的变化,以及怎样做好准备,为LPDDR3和DDR4内存系统提供正确的信号。您可以率先了解相关知识,做好必要的仪器选型规划,以便对这些新兴标准执行电气检验。
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