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  • 半導体パラメータアナライザ
    Products

    Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

    表征材料、工艺和半导体器件的全集成解决方案
  • Keithley I-V Curve Tracer
    Products

    I-V 波形记录器软件

    重新创建熟悉的两端器件波形记录器用户体验,可通过电流和电压两个方面跟踪器件特性。
  • 4200A-SCS参数分析仪技术资料
    Datasheet

    4200A-SCS参数分析仪技术资料

    亲眼见证创新!4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V) 和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度
  • 为您的4200-SCS参数分析仪注入新生
    Technical Document

    为您的4200-SCS参数分析仪注入新生

  • 用4200A-SCS参数分析仪测量MOSFET栅极电荷
    Technical Document

    用4200A-SCS参数分析仪测量MOSFET栅极电荷

  • 使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量 - NEW
    Technical Document

    使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量 - NEW

    本应用指南介绍了怎样使用4200A-SCS及选配的4225-PMU超快速I-V模块(PMU)或4220-PGU脉冲发生器单元(PGU)进行电荷泵测量。
  • 半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集
    Technical Document

    半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集

    如何将获得信息的速度轻松提升2倍 需要测量新材料或新器件?轻松的系统搭建、更快地参数设置、以及内置测试库和学习工具,您将得到测试速度的全新体验。看看吉时利4200A-SCS参数分析仪如何帮助您满怀信心的应对各种测试,无论是器件设计和可靠性、电化学还是故障分析。 半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集 • 《使用4200A-SCS参数分析仪测量碳纳米管晶体管的电气特点》 • 《使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量》 • 《非易失性内存的脉冲I-V特性分析技术》 • 《使用4200A …
  • 使用4200A-SCS参数分析仪分析MOS电容器的C-V特点
    Technical Document

    使用4200A-SCS参数分析仪分析MOS电容器的C-V特点

    本应用指南讨论了怎样使用配备4210-CVU集成C-V选项的Keithley 4200A-SCS参数分析仪对MOS电容器进行C-V测量,另外还介绍了MOS管基本原理,对MOS电容器执行C-V测量,提取常用C-V参数,以及各种测量技术。
  • 4200A-SCS参数分析仪简化 BioFETs DC I-V表征的四种方式
    Blog Entry

    4200A-SCS参数分析仪简化 BioFETs DC I-V表征的四种方式

    业界在基于半导体的生物传感器中的研发投入一直很多,因为其成本低,反应快,检测准确。特别是基于场效晶体管的生物传感器或者bioFETs,被广泛用于各种应用,比如生物研究、即时现场护理诊断、环境应用,甚至食品安全。 bioFET把生物反应转换成分析物,再把分析物转换成使用DC I-V技术可以测量的电信号。 可以通过很多方式在bioFETs上进行DC I-V测试 …