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  • 半導体パラメータアナライザ
    Products

    Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

    表征材料、工艺和半导体器件的全集成解决方案
  • 4200A-SCS参数分析仪简化 BioFETs DC I-V表征的四种方式
    Blog Entry

    4200A-SCS参数分析仪简化 BioFETs DC I-V表征的四种方式

    业界在基于半导体的生物传感器中的研发投入一直很多,因为其成本低,反应快,检测准确。特别是基于场效晶体管的生物传感器或者bioFETs,被广泛用于各种应用,比如生物研究、即时现场护理诊断、环境应用,甚至食品安全。 bioFET把生物反应转换成分析物,再把分析物转换成使用DC I-V技术可以测量的电信号。 可以通过很多方式在bioFETs上进行DC I-V测试 …
  • 半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集
    Technical Document

    半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集

    如何将获得信息的速度轻松提升2倍 需要测量新材料或新器件?轻松的系统搭建、更快地参数设置、以及内置测试库和学习工具,您将得到测试速度的全新体验。看看吉时利4200A-SCS参数分析仪如何帮助您满怀信心的应对各种测试,无论是器件设计和可靠性、电化学还是故障分析。 半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集 • 《使用4200A-SCS参数分析仪测量碳纳米管晶体管的电气特点》 • 《使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量》 • 《非易失性内存的脉冲I-V特性分析技术》 • 《使用4200A …
  • 4200A-SCS参数分析仪技术资料
    Datasheet

    4200A-SCS参数分析仪技术资料

    亲眼见证创新!4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V) 和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度
  • 使用吉时利Model 4200-SCS参数分析仪进行晶圆级可靠性测试
    Technical Document

    使用吉时利Model 4200-SCS参数分析仪进行晶圆级可靠性测试

  • 数字,模拟,射频以及用户自定义信号的模拟和产生
    Technical Document

    数字,模拟,射频以及用户自定义信号的模拟和产生

    在数字,模拟以及射频设计中,经常需要产生各种类型的信号来模拟系统产生的信号,或者被测系统需要接收的信号以及被测系统所处的信号环境.以验证系统的发 送,接收的稳定性和性能.通过泰克的任意波形发生器就能够模拟各种工程师所需要的信号.本主题将介绍如何通过泰克的AWG任意波形发生器产生高速串行标准 信号,雷达信号,OFDM,数字调制信号,激光脉冲,环境噪声以及各种用户自定义的信号.
  • 吉时利4200A-SCS 参数分析仪简化BioFETs DC I-V 表征的四种方式
    Technical Document

    吉时利4200A-SCS 参数分析仪简化BioFETs DC I-V 表征的四种方式

    业界在基于半导体的生物传感器中的研发投入一直很多,因为其成本低,反应快, 检测准确。特别是基于场效晶体管的生物传感器或者bioFETs,被广泛用于各种 应用,比如生物研究、即时现场护理诊断、环境应用,甚至食品安全。 bioFET 把生物反应转换成分析物,再把分析物转换成使用DC I-V 技术可以测量 的电信号。
  • 计算机/通讯以及消费电子设备的高速串行接口的调试以及一致测试验证性
    Technical Document

    计算机/通讯以及消费电子设备的高速串行接口的调试以及一致测试验证性

    目前在计算机/通讯以及消费电子设备中,已经使用了越来越多的高速串行接口,比如 PCIE,SATA,HDMI,MHL,thunderbolt,USB3,Displayport,SFP+,10G-KR,10Gbase-T等等, 这些接口使设备的性能得到了大幅度的提高,但同时也导致系统设计的复杂性大大提升,而且这些接口相互之间的兼容性也可能会存在各种问题.为了保证这些设备 的高速接口的性能和兼容性,需要对它们进行性能的验证和一致性测试.本主题将对各种高速接口的原理架构进行基本的介绍,同时提供相应的测试方案对这些接口 进行验证.
  • 评估氧化物可靠性
    Technical Document

    评估氧化物可靠性

    本应用指南介绍了怎样使用吉时利Model 4200-SCS半导体特性分析系统执行氧化物可靠性测试。
  • 评估MOSFET器件热载波感应的劣化
    Technical Document

    评估MOSFET器件热载波感应的劣化

    本应用指南介绍了怎样使用吉时利Model 4200-SCS半导体特性分析系统,利用所需的关键功能测量热载波感应的劣化。