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MIPI interfaces continue to transform the user experience in mobile devices with increased resolution in video, display and camera applications.

准确、可重复的 PCIe 测量

近二十年来,PCI Express® 技术已成为广泛采用的高速串行接口连接标准。最新的 PCIe® 规范满足了数据密集型市场的需求,例如人工智能/机器学习和高性能计算。

我们的 PCIe 自动化测试解决方案能够处理设置和校准,显著降低了测试复杂性。这些解决方案与低噪音测量硬件配合使用,可实现快速、准确和可重复的测量。作为 PCI-SIG® 工作组的活跃投票成员,我们拥有发射机、接收机、参考时钟和锁相环 (PLL) 验证所需的丰富专业知识。

PCI Express、PCIE 和 PCI-SIG 是 PCI-SIG 的注册商标和/或服务商标。

面向 PCI Express 的全面自动化测试解决方案

行业领先的 PCIe Base 6.0 发射器和接收器测试解决方案

最新推出的 PCIe 6.0 基础规范使带宽和能效翻了一倍。PCIe 6.0 引入了多级 PAM4 信号和光前向纠错 (FEC) 功能,以支持这些高数据传输速率 (64.0GT/s),同时保持低时延。通过泰克的 PCIe 6.0 发射机测试解决方案,工程师可以解决最新的设计和验证问题。直观的工具针对信噪失真比 (SNDR) 等电压和时间测量以及最新草案所强制要求的不相关抖动测量提供了开箱即用的支持。

查看第 6 代 PCIe 产品技术资料

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第 1 代至第 5 代 PCIe 发射机测试解决方案

通过提供自 2.5 GT/s 至 32.0 GT/s 的 PCIe 发射机验证和一致性解决方案(第 1 代至第 5 代),我们的 PCIe 发射机测试解决方案支持向后兼容。从早期的硅电压/时间检定到平台级别发射机和参考时钟测量都在支持的范围内。泰克技术领导者通过纳入所有工程变更通知 (ECN) 并支持 PCI-SIG 一致性研讨会作为获得认可的解决方案,确保这些解决方案保持紧密相关。

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查看第 5 代 PCIe 手册

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PCIe 接收机和 PLL 测试解决方案

由于跨高损耗通道校准压力眼图信号的灵敏度原因, PCIe 接收机验证非常困难。通过泰克的 PCIe 接收机测试解决方案,您可以充满信心地让设计以必要的误码率 (BER) 目标值全面通过测试。我们直观的分步骤工具为 Anritsu MP1900A BERT 提供了链路调训例程,以确保准确测试您的接收机。自动化测试支持压力眼图校准、最新的发射机和接收机链路均衡一致性测试、自定义 BER 运行以及抖动容限检定。此框架还支持轻松地测量发射机 PLL 带宽和峰值。

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Compute Express Link (CXL)

数据中心架构必须能够不断地响应数据移动和访问的需求,同时最大限度降低功耗,提高效率,并支持更大规模和更为多样的应用。利用 PCIe 物理层的优势,CXL 可满足这些要求,允许处理器高效访问相同的内存资源,一起通信,并在单个架构上运行。泰克提供的物理层解决方案支持最快的 CXL 数据速率 (32 GT/s) 以及此新兴技术可能带来的各种各样的外形。

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其他 PCI Express 资源

PCI Express Gen6
Webinar

PCIe 第 6 代 PAM4 信号在线研讨会

查看对 PCI Express 第 6 代的验证的探讨。查看压力眼图校准,使用真实实验室数据以 32GBaud PAM4 进行接收机测试。
PCIe Gen5 Transmitter Test
Technical Brief

第 5 代 PCIe 发射机验证技术简介

阅读关于第 5.0 代 PCIe 的简介,了解测试挑战及泰克发射机测试解决方案的概要。
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第 5 代 PCI Express 接收机测试在线研讨会

观看在线研讨会,聆听泰克的 David Bouse 和 Anritsu 的 Hiroshi Saito 提供的有关此标准接收机测试的洞见。
PCI Express Stress Eye
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第 5 代 PCI Express 压力眼图校准演示

观看我们对第 5 代 PCIe 接收机自动化测试解决方案和 CEM 测试应用的演示。
Skew Measurement
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PCIe 通路间时延白皮书

了解如何使用最大数据速率 32 GT/s(第 5 代)准确地测量跨 PCIe 发射机的通路间时延。