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在实验室和晶圆测试环境中测试Si、SiC 和 GaN MOSFET确保安全、精准和快速。了解在设计中采用 SiC 和 GaN 导致的测试挑战以及如何解决它们的更多信息。了解如何最大程度降低最终产品的功耗和最大程度延长电池寿命。缩短设计的上市时间。

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功率设备检定

  • 对 Si、SiC 和 GaN 设备进行安全、精确和快速的 MOSFET 测试
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  • 安全地设置测试
  • 设备检定加快 2 倍,缩短上市时间
  • 避免昂贵的过量设计
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自动参数化测试

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  • 在不改变测试设置的情况下从高压变成低压
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加快能量转换设计的上市时间

  • 克服高共模电压
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最大限度延长 IoT 设备的电池寿命

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能效趋势

我们的工程师就能效为何成为比以前更关键的设计考虑因素分享自己的观点。而且,在此页面上加书签可以定期更新。

泰克的 Tom Neville 说道:“因此,今年,我们看到一个重大转折点,就是碳化硅实现许多商用产品。”

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