信号完整性

在系统中隔离和消除任何位置的信号完整性问题是极具挑战的任务。 泰克为您提供正确应对高速信号偏差所需的带宽和节时功能,能够快速定位故障并跟踪其源头,从而消除计划延迟和可靠性问题。

  • TLA7000 逻辑分析仪 是快速定位协议或逻辑层问题的理想工具。从 PHY 层到协议和事务层的深触发系统和完整视图工具。
  • 混合信号示波器 可进行最多 20 个模拟和数字通道的信号完整性测量,单台仪器型号的模拟带宽范围为 100MHz 直至 20GHz。
  • 混合域示波器 提供时域和频域内的独特洞察,完整显示复杂的信号完整性挑战。随时查看任何位置的 RF 频谱,观察它随时间或设备状态的变化情况。

 

码型数据库

Title
Logic Analyzer Fundamentals

Learn the basics and benefits of logic analyzers - see how this tool can solve your debug challenges.

信号完整性基础入门手册

本文的目的是提供引一些有关在数字系统信号完整性相关的见解,并说明其原因,特点,影响和解决方案。

泰克MSO/DPO系列示波器电源测量演示演示全系列电源测量探头和附件; 重点介绍选配的DPO4PWR或DPO3PWR应用模块提供的各种电源测量; 演示产品如何轻松进行嵌入式设计人员通常执行的复杂的电源测量。
泰克USB 测试解决方案泰克USB 测试解决方案:电接口验证和一致性测试、信号路径检定、数字验证和调试
为任意波形发生器增加价值摘要: 在历史上,人们一直使用多种专用信号源生成各种波形,提供来自没有上市的或很难获得的元器件的信号。这要求购买和维护单独的专用信号源,甚至要求为某个项目定制设计或修改信号源。随着数字取样技术和数字串行处理技术的出现,可以只通过一部信号源仪器-- 任意波形发生器,生成要求的几乎任何类型的信号。新的任意波形发生器使得电子设计工程师能够通过提供了高信号频率、高保真度信号复现能力和稳定时钟的通用信号源,满足模拟和嵌入式处理器应用的需求。
TDR 阻抗测量:信号完整性的基础随着数字系统设计人员在计算机、通信系统、视频系统和网络系统中开发的时钟频率和数据速率越来越高,信号完整性正变得愈发重要。在当前的高工作频率下,影响信号上升时间、脉宽、定时、抖动或噪声内容的任何事物都会影响整个系统的可靠性。为保证信号完整性,必需了解和控制信号经过的传输环境的阻抗。阻抗不匹配和偏差可能会导致反射,在整体上降低信号质量。
数字设计调试指南学习更多利用数字示波器来检修和调试高速嵌入式系统设计。
使用集成逻辑分析仪与示波器快速调试信号完整性

快速开发产品要求快速高效地调试信号完整性问题。随着数字系统设计人员追逐的时钟和数据速率越来越高,信号完整性正变得越来越重要。

Cross-bus Analysis Reveals Interactions and Speeds Troubleshooting

Cross-bus analysis has become an indispensable troubleshooting methodology. This application note discusses how the powerful new logic analysis solution from Tektronix can speed your cross-bus troubleshooting requirements

Signal Integrity Engineer's Companion: The Wireless Signal --Part VIIChapter 10 of the Signal Integrity Engineer's Companion discusses new techniques in wireless signal measurement and thought-provoking ideas about signal analysis in the modern wireless environment. Part VII covers applying real-time spectrum analysis. From embedded.com.

The TLA6400 simplifies probing system under test by eliminating the need to…

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标题
Demystify MIPI D-PHY and C-PHY Transmitter and Receiver Physical Layer Test

During this webinar, you'll gain an understanding of MIPI test challenges for both MIPI high-speed physical layers and useful tips and technical insights into characterizing and validating design compliance.

TDR Analysis for S Parameter Creation

This webinar reviews TDR basics and the ability to create S-parameters using TDR/TDT measurements to validate high speed channels for debug or de-embedding in a Serial Data Link Analysis application.

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