材料科学—泰克材料电学特性参数测试方案

释放新材料的潜力

泰克及旗下吉时利品牌，提供各类材料电参数测试方案，包括：

材料测试平台主要提供材料电学特性的测试方案。电学特性是许多材料研究的重点，常见的测试参数：

帮助您理解新一代半导体材料的特性和实际应用，以及其测试痛点

实际半导体材料的特性及实际应用：

测试技巧：

支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT曲线），电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试（PMU）,支持超高速脉冲测试。

产生ps级脉冲，进行材料的高速性能测试。

最高可达70GHz带宽，完整还原高速信号，广泛应用于数据通信领域测试。

为用户灵活、精准的同时提供和测量电流/电压。

低噪声、高精度、超大屏幕，用于新一代USB, DDR和PCIe测试。

Library

Title
利用不同传导测试方法进行纳米材料的特性分析（英文3页）
霍尔效应测试系统（中文6页）
DC I-V Characterization of FET-Based Biosensors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A Introduction Crystalline materials are fundamental to modern electronics and optoelectronics. Therefore, the electrical properties of these materials, such as their (anisotropic) …
用 2450 型数字源表与四探针进行电阻测量
利用4200-SCS进行四探头电阻与霍尔电压测试
利用4200-SCS型参数分析仪，对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电气特性分析
使用Model 2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统执行循环伏安测量化学工程师、化学家和其他科学家都使用电测量技术，研究化学反应和态势。循环伏安测量 (CV) 是一种电位扫描方法，也是最常用的测量技术。CV 以线性方式扫描电极电位随时间变化，测量流经电路的电流，其一般是3 电极电化学电池。得到的I-V 数据提供了与被分析物有关的重要电化学特点。本应用指南介绍了使用2450-EC 或2460-EC 电化学实验室系统 …
漏电流与绝缘阻测量

Title
Road to Ignition: Improving Pulse Shaping at NIF In December of 2022, the National Ignition Facility (NIF), a fusion research center located within the DOE’s Lawrence Livermore National Laboratory (LLNL), achieved humanity’s first controlled fusion …
Sensors and Semiconductors Testing Materials for Tomorrows Smart Devices Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made.
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall Effect and van der Pauw measurements for calculating sample resistivity and mobility among other parameters as well as …
Tips and Techniques to Simplify MOSFET-MOSCAP Device Characterization This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to …