测试 C 型高速串行标准

C 型客户标准

适用于下一代 USB、DisplayPort 和 Thunderbolt

测试 C 型高速串行标准

C 型连接器中结合了 USB 3.1、DisplayPort 1.4、Thunderbolt 和 Thunderbolt 等高速串行标准，可提供低功率、低成本、高速度和高分辨率的显示。由于需要强调发射机方以及均衡接收机方，导致难以在保持产品具有最佳电气余量的情况下保持低设计成本，这将带来全新设计挑战。

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了解如何：

更快地实现一致性
对设备余量建立信心
避免昂贵的过度设计

更快地实现一致性

一致性程度测试时间至关重要，而需执行的大量测量使得有必要实现自动化。您通过基于 TekExpress 的测试自动化软件快速获得一键式通过/不通过一致性信息（例如，比竞争对手的 DisplayPort 软件快 3 倍）。

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对设备余量建立信心

为了检定设计，需要进行垂直和水平抖动解析来了解设备行为。为了对设备余量建立信心，您需要通过外插渲染眼图和使用不同通道型号分析对远端信号的通道效应的功能。借助 Tektronix DPOJET，不仅实现简单的通过/不通过一致性，还可获得关于一致性问题的深入调试洞察（通过使用 BER 轮廓进行的抖动、噪声、眼图高度/宽度、显示图）。通过 Tektronix SDLA 选择您的设计所需的最佳通道（可支持使用不同通道型号来模拟对信号的效应）。在离线模式下分析波形并与全球团队合作以缩短上市时间。

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在 1E-12 推断的 USB 3.1 第 2 代在 10Gbps 下的 BER 轮廓。

避免昂贵的过度设计

一键式操作实现的 USB 接收机抖动容限余量测试。

因为典型 BERT 不支持协议握手和记录，使得难以调试 DUT 环回问题。 Tektronix BSX 系列 BERT 解决方案中的协议排序器解决调试环回问题所面临的挑战。

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接收机设计起来十分昂贵，而接收机的过度设计余量可能甚至更昂贵。在保持零件成本的情况下，很难确保接收机的余量足以通过一致性、极具竞争性。 BERT 示波器中的余量分析工具可帮助您了解早期设计的余量，并制定正确的折中决策来落实设计。

当 DUT 处于环回状态时，所有状态和子状态颜色将为“绿色”。否则，失败状态变为“红色”并且可单击以接收诊断消息。

特色内容

USB 3.1 参考指南 - 您需要知道哪些内容

参考指南

快速、轻松参考重要 USB 规范，无需整理数百页内容。此指南包括重要的电气测试参数、一致性模式的参考图像、第 1 代和第 2 代的环回序列、如何克服关键 Tx 和 Rx 测试和测量挑战等。

立即下载

简化 USB C 型设计验证 – 从复杂到简捷。

在线研讨会

全面的故障调试工具是帮助您的产品通过一致性测试并获得认证的关键。此深入的在线研讨会将帮助您简化验证任务，实现从复杂到简捷的转变。

立即观看

如何调试 USB 3.1 Gen1 和 Gen2 电气一致性故障

应用指南

了解更多关于 Type-C 连接器及其为 USB 3.1（最新 USB 3.1 技术规格）带来的优势，以及如何超越一致性测试以深入了解底层问题，应对余量及高成本测试时间问题。

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对信号实际特性的准确测量

DPO70000SX

利用超低噪声的 DPO70000SX 实时示波器，实现更准确的检定和余量分析。

USB、DisplayPort 和 HDMI 的发射机测试

了解详情

缩短物理层和链路调训的调试时间

BSX 系列 BERTScope

使用集成 DPP 和协议感知架构的第 1 代 (@5Gb/s) 和第 2 代 (@10Gb/s) 测试。

USB 和 DisplayPort 的接收机测试

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USB 解决方案

USB3.1 C 型发射机

在测试 SuperSpeed USB 3.1 C 型设计时结合完整的 SigTest 支持和 DPOJET，快速找出问题的根源。

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DisplayPort 解决方案

DisplayPort 1.4 和 C 型

缩短总体一致性测试时间（小于 6 小时），并允许工程师在运行测试时处理其他任务。

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Thunderbolt 解决方案

Thunderbolt

在离线模式下分析波形、发给全球同事并远程协作来解决设计问题。

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是否面临其他有线通信应用中的挑战？

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加速 PCIe、SAS、SATA 测试和调试

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