CVIV 简化 MOSFET/MOSCAP 设备检定的提示和技巧 06 Oct 2016 时长： 27:26 此网络研讨会展示了一个可简化和加速检定和参数提取操作的新流程。我们将讨论常用参数的提取以及获取有关设备的大部分信息所需运行的测试。 立即注册并了解如何： • 检定 MOS 设备的交流和直流属性 • 首次正确执行 I-V 和 C-V 测量 • 快速轻松地在直流和交流测量之间切换 How to make automatic I-V and C-V measurements Improving Characterization and Measurement Practices for Research Keithley 4200A-SCS 参数分析仪 Nanoseconds or Nanometers: Going for Single Digits with Next-Generation Semiconductor Technologies Sensors and Semiconductors: Testing Materials for Tomorrow’s Smart Devices
CVIV 简化 MOSFET/MOSCAP 设备检定的提示和技巧 06 Oct 2016 时长： 27:26 此网络研讨会展示了一个可简化和加速检定和参数提取操作的新流程。我们将讨论常用参数的提取以及获取有关设备的大部分信息所需运行的测试。 立即注册并了解如何： • 检定 MOS 设备的交流和直流属性 • 首次正确执行 I-V 和 C-V 测量 • 快速轻松地在直流和交流测量之间切换
