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泰克携手西安电子科技大学微电子学院

共建微电子实践育人平台

揭幕仪式在西安电子科技大学微电子学院举行。通过双方在微电子领域产学合作协同育人、科研创新和产业转化,以及带动学科的整体发展和影响力,联合创新集成电路人才培养机制,共同制定培养目标、共同设计课程、共同开发教材、共建教学团队、共建实习实践实训平台,在全国相关高校及半导体行业内起到示范和引领作用,打造微电子领域具有前瞻性的产学研融合协同育人的示范性平台...
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  • 大咖课堂讲义

    8+

  • 推荐专业文章

    10+

  • 参会者

    2000+

  • 产学研单位与公司

    2000+

课程专题

以下精华讲稿,来自于业内著名院校及产业界资深人士,内容涵盖了逻辑及存储器件的表征挑战及方法,为新材料及器件结构的可靠性研究提供了宝贵参考资料,同时还针对表征及可靠性测试提供了深入阅读资料。
近期还将更新更多行业大咖讲稿,敬请期待。

2019
2018
  • 1.

    聚合物传感器

    • 信息功能聚合物
    • 柔性压力传感器
    • 多模传感器及系统集成

    潘力佳,施毅,郑有炓

    南京大学电子科学与工程学院

  • 2.

    新型(二维)狄拉克材料和物理器件研究

    • 基于晶圆级二维材料的光电探测器
    • 基于新型狄拉克材料的电子(自旋)器件
  • 3.

    氧化物半导体薄膜的多场调控

    • n-p pair codoping oxides—DMS
    • Oxides magnetic nanostructures

    许小红

    湖南大学
    微纳光电器件及应用教育部重点实验室

  • 4.

    基于忆阻器的类脑计算

    • 晶体管
    • 界面控制:范德华异质集成
    • 界面控制:超薄缓冲层
    • 物性调控:嵌入与复合

    吴华强

    清华大学微电子所

  • 5.

    高效率氮化镓毫米波器件研究

    • 为什么存算一体
    • 存算一体技术的挑战

    马晓华

    西安电子科技大学

  • 6.

    新型半导体异质集成及器件构筑

    廖蕾

    湖南大学
    微纳光电器件及应用教育部重点实验室

  • 1.

    高效率氮化镓毫米波器件研究

    超宽带元器件和应用、VCSEL技术与应用、3D感测技术。

     

    Mike Flaherty

    General Manager of Keithley, Sonix & China business Unit

  • 2.

    先进逻辑与存储器件可靠性评估中的缺陷表征

    标准逻辑元器件、新兴ReRAM元器件的缺陷监测和分离、可靠性评估、高通道移动材料元器件应用。

     

    纪志罡

    英国利物浦约翰摩尔斯大学副教授

  • 3.

    亚纳秒器件表征技术

    超快速表征背景、超快载波传输特性、超快设备可靠性特性描述。

     

    赵毅

    浙江大学信息与电子工程学院&微电子学院教授、博导

  • 4.

    纳米级CMOS器件中随机氧化物俘获特性研究

    随机氧化物俘获特性研究、RTN表征技术测量体系和提取方法与应用案例。

     

    王润声

    北京大学信息学院博士生导师

  • 5.

    NOR Flash: Scaling 的挑战、可靠性及表征

    介绍了NOR Flash和Scaling 的挑战、可靠性及表征。

     

    蔡一茂

    北京大学微纳电子学研究院教授

  • 6.

    阻变存储器可靠性模型及表征

    新型存储器介绍、阵列测试、RRAM表征技术的极端化发展。

     

    高滨

    清华大学微电子所助理教授、博士生导师

  • 7.

    锗隧道和负电容FET超越CMOS器件和应用表征

    Non‐Si Microelectronics、High Mobility Ge and GeSn MOSFETs和Beyond CMOS。

     

    韩根全

    西安电子科技大学微电子学院教授

  • 8.

    先进工艺(14/10/7纳米)可靠性表征

    自热效应、可靠性变化与产品可靠性评定

     

    刘长泽

    华为海思半导体有限公司博士

2019年 “半导体材料器件表征及可靠性研究交流会” 预告,欢迎莅临现场深度交流!

泰克“半导体材料器件表征及可靠性研究交流会”已举办三届,分别携手微纳电子与集成系统协同中心和复旦大学,联合南京大学、中科院上海技术物理研究所、中国科学院纳米中心共同举办,旨在加强全国各相关领域研究队伍的交流、提供学术界与产业界相互分享最新研究成果的机会,推动我国先进电子材料与器件的发展,促进杰出青年科学家的迅速成长和协同创新。邀请了超过40名行业专家分享研究成果,受到一致好评。

2019年,泰克将继续携手高校及研究所,为产学研交流合作搭建桥梁。

2018年活动现场照片

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吉时利4200A-SCS参数分析仪

吉时利4200A-SCS参数分析仪

将I-V和C-V测量速度提升两倍!

4200A-SCS 是可量身定制、全面集成的参数分析仪,可同步查看电流电压(I-V),电容电压 (C-V) 和超快脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。

主要应用:半导体器件和工艺特性分析;半导体晶圆级可靠性;半导体失效分析;电化学;非易失性存储器件(NVM)的研发与特性分析。

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