Skip to main content
 
 

泰克半导体产学研技术大讲堂系列

大咖云集 内容独家放送!

泰克(吉时利)携手微纳电子与集成系统协同创新中心在北京举办了“半导体器件的表征及可靠性研究交流会”,吸引了来自各领域的科技人才、研究队伍、知名学者及产业界和学术界的共同关注。

为将此次会议内容分享更多业内人员,将通过线上讲堂的形式向大家分期陆续介绍来自产学研的八位嘉宾的演讲内容,同时不定期推荐深入阅读文章,旨在向相关领域研究队伍提供学术界与产业界最新研究成果。

  • 大咖课堂讲义

    8+

  • 推荐专业文章

    10+

  • 参会者

    2000+

  • 产学研单位与公司

    2000+

课程专题

  • 1.

    半导体技术世界变革

    超宽带元器件和应用、VCSEL技术与应用、3D感测技术。

     

    Mike Flaherty

    General Manager of Keithley, Sonix & China business Unit

  • 2.

    先进逻辑与存储器件可靠性评估中的缺陷表征

    标准逻辑元器件、新兴ReRAM元器件的缺陷监测和分离、可靠性评估、高通道移动材料元器件应用。

     

    纪志罡

    英国利物浦约翰摩尔斯大学副教授

  • 3.

    亚纳秒器件表征技术

    超快速表征背景、超快载波传输特性、超快设备可靠性特性描述。

     

    赵毅

    浙江大学信息与电子工程学院&微电子学院教授、博导

  • 4.

    纳米级CMOS器件中随机氧化物俘获特性研究

    随机氧化物俘获特性研究、RTN表征技术测量体系和提取方法与应用案例。

     

    王润声

    北京大学信息学院博士生导师

  • 5.

    NOR Flash: Scaling 的挑战、可靠性及表征

    介绍了NOR Flash和Scaling 的挑战、可靠性及表征。

     

    蔡一茂

    北京大学微纳电子学研究院教授

  • 6.

    阻变存储器可靠性模型及表征

    新型存储器介绍、阵列测试、RRAM表征技术的极端化发展。

     

    高滨

    清华大学微电子所助理教授、博士生导师

  • 7.

    锗隧道和负电容FET超越CMOS器件和应用表征

    Non‐Si Microelectronics、High Mobility Ge and GeSn MOSFETs和Beyond CMOS。

     

    韩根全

    西安电子科技大学微电子学院教授

  • 8.

    先进工艺(14/10/7纳米)可靠性表征

    自热效应、可靠性变化与产品可靠性评定

     

    刘长泽

    华为海思半导体有限公司博士

课程专题

  • 1.

    半导体技术世界变革

    超宽带元器件和应用、VCSEL技术与应用、3D感测技术。

     

    Mike Flaherty

    General Manager of Keithley, Sonix & China business Unit

  • 2.

    先进逻辑与存储器件可靠性评估中的缺陷表征

    标准逻辑元器件、新兴ReRAM元器件的缺陷监测和分离、可靠性评估、高通道移动材料元器件应用。

     

    纪志罡

    英国利物浦约翰摩尔斯大学副教授

  • 3.

    亚纳秒器件表征技术

    超快速表征背景、超快载波传输特性、超快设备可靠性特性描述。

     

    赵毅

    浙江大学信息与电子工程学院&微电子学院教授、博导

  • 4.

    纳米级CMOS器件中随机氧化物俘获特性研究

    随机氧化物俘获特性研究、RTN表征技术测量体系和提取方法与应用案例。

     

    王润声

    北京大学信息学院博士生导师

  • 5.

    NOR Flash: Scaling 的挑战、可靠性及表征

    介绍了NOR Flash和Scaling 的挑战、可靠性及表征。

     

    蔡一茂

    北京大学微纳电子学研究院教授

  • 6.

    阻变存储器可靠性模型及表征

    新型存储器介绍、阵列测试、RRAM表征技术的极端化发展。

     

    高滨

    清华大学微电子所助理教授、博士生导师

  • 7.

    锗隧道和负电容FET超越CMOS器件和应用表征

    Non‐Si Microelectronics、High Mobility Ge and GeSn MOSFETs和Beyond CMOS。

     

    韩根全

    西安电子科技大学微电子学院教授

  • 8.

    先进工艺(14/10/7纳米)可靠性表征

    自热效应、可靠性变化与产品可靠性评定

     

    刘长泽

    华为海思半导体有限公司博士

课程专题

  • 1.

    半导体技术世界变革

     

    Mike Flaherty

    General Manager of Keithley, Sonix & China business Unit

  • 2.

    先进逻辑与存储器件可靠性评估中的缺陷表征

     

    纪志罡

    英国利物浦约翰摩尔斯大学副教授

  • 3.

    亚纳秒器件表征技术

     

    赵毅

    浙江大学信息与电子工程学院&微电子学院教授、博导

  • 4.

    纳米级CMOS器件中随机氧化物俘获特性研究

     

    王润声

    北京大学信息学院博士生导师

  • 5.

    NOR Flash: Scaling 的挑战、可靠性及表征

     

    蔡一茂

    北京大学微纳电子学研究院教授

  • 6.

    阻变存储器可靠性模型及表征

     

    高滨

    清华大学微电子所助理教授、博士生导师

  • 7.

    锗隧道和负电容FET超越CMOS器件和应用表征

     

    韩根全

    西安电子科技大学微电子学院教授

  • 8.

    先进工艺(14/10/7 纳米)可靠性表征

     

    刘长泽

    华为海思半导体有限公司博士

2018泰克半导体研讨会预告,欢迎莅临现场深度交流!

了解更多

吉时利4200A-SCS参数分析仪

吉时利4200A-SCS参数分析仪

将I-V和C-V测量速度提升两倍!

4200A-SCS 是可量身定制、全面集成的参数分析仪,可同步查看电流电压(I-V),电容电压 (C-V) 和超快脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。

主要应用:半导体器件和工艺特性分析;半导体晶圆级可靠性;半导体失效分析;电化学;非易失性存储器件(NVM)的研发与特性分析。

Go to top