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使用 4200A-SCS 参数分析仪测量 MOSFET 栅极电荷


简介

功率 MOSFET 用途广泛,可用作高速开关。器件的开关速度受内部电容的影响,内部电容在数据表中通常以 Ciss 和 Coss 表示,它们是由输入栅极和漏极电容 Cgs 和 Cgd 得出。除了指定电容外,栅极电荷(Qgs 和 Qgd)也可用于评估 MOSFET 的开关性能。

JEDEC JESD24-2 标准“栅极电荷测试方法”中介绍了测量 MOSFET 栅极电荷的一种方法。在这种方法中,在测量栅源电压与时间的函数关系时,会强制施加栅极电流。根据由此产生的栅极电压波形,可以得出栅源电荷 (Qgs)、栅漏电荷 (Qgd) 和栅极电荷 (Qg)。

4200A-SCS 参数分析仪支持使用两台“源测量单元”(SMU) 仪器和系统附带的栅极电荷测量测试功能进行 MOSFET 栅极电荷测量。该测试是 4200A-SCS Clarius+ 软件套件提供的广泛测试库中的众多测试之一。本应用指南介绍如何使用 4200A-SCS 参数分析仪根据 JEDEC 栅极电荷测试方法测量 MOSFET 栅极电荷。

MOSFET 栅极电荷测量概述

在栅极电荷法中,向 MOS 晶体管的栅极强制施加固定的测试电流 (Ig),并根据流入栅极的电荷绘制测得的栅源电压 (Vgs)。对漏端子应用固定偏压。图 1 显示了功率 MOSFET 的栅极电压与栅极电荷的关系。

栅极电荷 (Q) 由强制栅极电流和时间 (Igdt) 得出。如图 1 所示,栅源电荷 (Qgs) 是达到电压 (Vgs) 几乎恒定的坪区起点所需的电荷。根据 JEDEC 标准,坪(或 Miller)电压 (Vpl) 被定义为 dVgs/dt 最小时的栅源电压。电压坪是晶体管从关断状态切换到导通状态的区域。完成这种切换所需的栅极电荷 — 器件从坪区的起点切换到终点所需的电荷 — 被定义为栅漏电荷 (Qgd),也称为 Miller 电荷。栅极电荷 (Qg) 是指从原点到栅源电压 (Vgs) 等于指定最大值 (VgsMax) 的点之间的电荷。

 
MOSFET 栅极电荷测量图,其中显示功率 MOSFET 的电压与栅极电荷的关系
图 1. 功率 MOSFET 的典型栅极电压与栅极电荷的关系
 

S1 是从原点到第一个坪点的线段斜率。S2 是指从最后一个坪点到指定最大栅极电压 (VgsMax) 的线段斜率。根据 JESD24-2 标准的规定,斜率用于计算 Qgs 和 Qgd

图 2 显示了典型的栅极和漏极波形与时间的函数关系。随着电流被强制施加到栅极,Vgs 会增加,直至达到阈值电压。此时,漏极电流 (Id) 开始流动。当 Cgs 在时间 t1 充电时,Id 保持不变,漏极电压 (Vd) 下降。Vgs 保持不变,直到达到坪的末端。Cgd 在时间 t2 充电完毕后,栅源电压 (Vgs) 再次开始增加,直到达到规定的最大栅极电压 (VgsMax)。

 
显示栅极和漏极波形与时间的函数关系的图表。
图 2. MOSFET 的 Vgs、Vd 和 Id 与时间的关系
 

使用 4200A-SCS 进行 MOSFET 栅极电荷测量

4200A-SCS 使用两台 SMU 仪器测量功率 MOSFET 的栅极电荷。图 3 显示了栅极电荷测试的基本电路图。一个 SMU (SMU1) 的 Force HI 端子连接到 MOSFET 的栅极端子,强制施加栅极电流 (Ig) 并测量栅源电压 (Vgs) 与时间的函数关系。另一个 SMU(SMU2)以指定的限制电流 (Ib) 向漏极施加固定电压 (Vds)。4200-SMU 的最大限制电流为 0.1 A;4210-SMU 的最大限制电流为 1 A。

在栅极电荷测试过程中,栅极电压升高并接通晶体管。在坪区过渡期间,漏极 SMU (SMU2) 从电压控制模式切换到电流控制模式,因为电流超过了规定的限制水平。软件会返回从关断状态过渡到接通状态期间的漏极瞬态电流和漏极电压。

MOSFET 的源极端子连接到 4200A-SCS 机箱的 Force LO 端子或 GNDU。

 
使用两台源测量单元 (SMU) 仪器的 MOSFET 栅极电荷测试配置
图 3. 使用两台 SMU 仪器的栅极电荷测试配置。
 

为 MOSFET 栅极电荷测量配置 Clarius+ 软件

栅极电荷测试位于测试库和项目库中,可通过搜索短语“栅极电荷”在“选择”窗格中找到。在测试库中找到测试后,可通过选择该测试并将其添加到项目树中来添加到项目中。该测试由 GateCharge 用户库中的 gate_charge 用户模块创建。

设置输入参数

在执行测试前,您需要在 Clarius 软件的“配置”窗格中设置输入测试参数(图 4)。输入参数将因器件和使用的 SMU 型号而异。

 
在吉时利 Clarius 软件的配置视图中设置 MOSFET 栅极电荷测试
图 4. 配置视图中的栅极电荷测试。
 

表 1 列出了输入参数的说明。首先,输入与 MOSFET 的栅极 (gateSMU) 和漏极 (drainSMU) 相连的 SMU 编号。源极端子应始终连接至 GNDU 或 Force LO。

gateCurrent (Ig) 参数是 gateSMU 强制施加到栅极的电流大小。漏极电压 (Vds) 是施加到漏极的偏压,drainLimitI 是漏极 SMU 的限制电流。

Coffset 参数用于校正偏移电容,将在以下段落中介绍。

表 1. gate_charge 用户模块的输入参数。

输入参数 值范围 默认值 描述
gateSMU SMU1-SMU9 SMU1 连接到栅极端子的 SMU 编号
drainSMU SMU1-SMU9 SMU2 连接到漏极端子的 SMU 编号
source GNDU GNDU 源极端子始终连接到 GNDU 上的 Force LO 端子
Vds ±200 V 10 V 漏极 SMU 的偏压大小
drainLimitI 4200-SMU:0.1A
4210-SMU:1 A
0.1 A 漏极 SMU 的限制电流
gateCurrent ± 1E-5 A 1e-7 A 栅极 SMU 的电流大小
VgsMax ±200 V 10 V 栅极 SMU 的最大电压电平。
timeOut 0 至 300 s 60 s 超时前的秒数。
measDrain 1(是)或 0(否) 1 返回测量的漏极电流
Coffset 0 或 Ceff 0 在开路情况下运行测试,然后输入返回到数据表的 Ceff 值

 

偏移电容的校正 

根据测量系统的布线和连接情况,偏移电容的范围为单个微微法拉到数百微微法拉。这些电容可通过在开路情况下执行 gate_charge 用户模块来校正,获得偏移电容,然后在软件中输入偏移电容值进行补偿。下面介绍如何执行这些步骤:

  1. 测量偏移电容。设置测试参数,包括输入栅极电流,就像器件连接到 SMU 一样。(增加 VgsMax 只是为了测量 Ceff)。在执行测试之前,提起探针或从测试夹具上取下器件。在开路情况下执行栅极电荷测试。
  2. 获取偏移电容。执行测试后,将会计算出系统的测量偏移电容,并显示在数据表的 Ceff 列中。Ceff 由最大栅极电压、栅极电流和时间得出。
    由于此步骤中测量了开路,因此在执行测试后,数据表中可能会出现 -9 或 -12 的测试状态值。这是因为没有对器件进行测量,所以不存在坪区。但是,Ceff 值是正确的,可以在“配置”视图中作为 Coffset 输入。
  3. 输入测量的偏移电容并执行测试。在“配置”视图中为 Coffset 输入测量的偏移电容 Ceff。默认情况下,Coffset 为 0 F。在随后的读数中将对偏移电容进行补偿。

执行测试

设置输入参数后,在屏幕顶部选择“运行”即可执行测试。测试运行时,栅极电荷波形将在“分析”视图的图形中实时更新,计算出的输出参数将显示在数据表中。

查看输出参数

测试完成后,将向数据表返回几个参数。表 2 列出了这些参数的说明。

表 2. gate_charge 用户模块的输出参数。

 
输出参数 描述
gate_charge 测试状态值 - 请参见表 3 了解其说明
timeArray 测量的时间(秒)
VgArray 测量的栅源电压(伏)
VgCharge 测量的栅极电荷(库仑)
VdArray 测量的漏极电压(伏)
IdArray 测量的漏极电流(安)
斜率 栅极电压的动态斜率 (dVg/dt)
Ceff 栅极电荷与最大栅极电压之比
Vpl 坪电压或 Miller 电压(伏)
T1 坪区域开始的时间戳(秒)
T2 坪区域结束的时间戳(秒)
Qgs 从原点到第一个拐点或电压坪的栅极电荷(库仑)
Qgd 栅极电荷曲线两个拐点之间的栅极电荷(库仑)
Qg 从原点到 VgsMax 的栅极电荷(库仑)
 

 

绘制结果图

由此产生的栅源电压可以绘制成栅极电荷或漏极电流的函数关系图,漏极电压可以绘制成时间的函数关系图。图 5 是 4200A-SCS 生成的典型栅极电压波形

 
吉时利 4200A-SCS 参数分析仪生成的 MOSFET 栅极电压波形
图 5. 图 5 是 4200A-SCS 生成的典型栅极电压波形。
 

除了绘制 Vgs、Vds 和 Id 之外,还可以绘制 MOSFET 栅极电荷或时间的函数关系图。图 6 显示了 Clarius 软件分析视图中的图形,其中显示了所有三个参数的栅极电荷函数关系图。在这种情况下,电压显示在 Y1 轴上,电流绘制在 Y2 轴上。

 
Vgs、Vds 和 Id 与 MOSFET 栅极电荷随时间变化的函数关系
图 6. Vgs、Vds 和 Id 与栅极电荷的函数关系。
 

检查测试状态

每次执行测试时,都会向数据表中名为”gate_charge“的第一列返回一个测试状态值。表 3 列出了”gate_charge“列中返回的测试状态值及其相应的说明和注释。

表 3. 测试状态值

测试状态 描述 说明
1 无错误 测试成功。
-1 栅极 SMU 不存在 指定正确的 SMU。
-2 漏极 SMU 不存在 指定正确的 SMU。
-3 VgsMax > 200 V 验证栅极电压是否小于 200V。降低栅极电压。
-4 漏极电流限值超过 1 A (4210-SMU)
漏极电流限值超过 0.1 A (4200-SMU)
验证漏极电流是否小于 1 A(或中等功率 SMU 为 0.1A)。降低漏极电流限值 (drainLimitI)。
-5 超过功率限值 如果 V > 20V,电流应 < 0.1A。降低漏极电流限值 (drainLimitI) 或漏极电压 (Vds)。
-6 输入条件错误检查。将 timeOut 限制为 200 s。 指定 timeOut < 200 s。
-7 测试时间超过指定超时 (timeOut)。 增加超时时间。最长为 200 s。尝试增加 gateCurrent,以加快器件充电速度。
-8 迭代/测量次数 > 10000。 增加栅极电流 (gateCurrent)。
-9 迭代/测量次数 < 5 降低栅极电流 (gateCurrent)。检查器件和测试设置,检查 SMU 是否正确。
如果在测量开路以进行偏移校正时出现此错误,则可忽略不计。Ceff 值仍然有效。
-10 从原点到第一个坪点的点数 < 10 减小栅极电流 (gateCurrent)
-11 计算斜率 S1 出错。相关因子 < 0.9。从原点到第一个坪点的曲线不呈线性。 检查器件和测试设置。
-12 计算斜率 S2 出错。相关因子 < 0.9。从最后一个坪点到 VgsMax 的曲线不呈线性。 检查器件和测试设置。如果 VgCharge 或 VdArray 显示为高电平,请尝试降低栅极电流并重复测试。如果在测量开路以进行偏移校正时出现此错误,则可忽略不计。Ceff 值仍然有效。
-13 Vds > 200 V 减小漏极电压。
-14 gateCurrent > 10 µA 减小栅极电流 (Ig)。

 

总结

使用吉时利 4200A-SCS 参数分析仪可以轻松测量晶体管的 MOSFET 栅极电荷。通过使用两台 SMU 仪器连接到器件栅极和漏极,Clarius 软件可以轻松获得栅极电荷波形。

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Mosfet 栅极电荷常见问题

MOSFET 的漏源导通电阻是多少?

MOSFET 开关器件在导通和关断状态下工作。在“导通”状态下,开关的阻抗理论上为零,无论有多少电流流过开关,开关都不会消耗功率。在“关断”状态下,开关的阻抗理论上为无穷大,因此没有电流流动,也不会消耗功率。

漏源导通电阻 (RDS(on)) 是 MOSFET 处于导通状态时漏极和源极之间的有效电阻。当施加特定的栅源电压 (VGS) 时,会出现这种情况。通常,随着 VGS 的增大,导通电阻会减小。MOSFET 的导通电阻越小越好,因为低电阻会减少不必要的功率耗散,从而提高器件的能效。

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的漏源导通电阻?

回答:漏源导通电阻 - RDS(on)

什么是漏源导通电阻?

漏源导通电阻 (RDS(on)) 是指当施加特定的栅源电压 (VGS) 将器件偏移至导通状态时,MOSFET 的漏极和源极之间的电阻。随着 VGS 的增加,导通电阻通常会降低。测量过程在器件的欧姆区(即线性区)进行。一般来说,MOSFET 导通电阻越低越好。

追踪这种电阻的方法之一是使用曲线追踪仪。在曲线追踪仪上,由“集电极电源”驱动漏极,由“阶梯信号发生器”驱动栅极。有关如何使用曲线追踪仪测试 MOSFET 漏源导通电阻的分步说明,请参见下文。有关如何使用示波器或 SMU 测量 MOSFET 导通电阻的说明,请参见我们的“什么是 MOSFET 的漏源导通电阻?”常见问题。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。在指定的 VDS 下,当 ID 小于或等于指定的最大值时,则符合技术规格。

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的漏源导通电阻:

1. 在控件下,设置:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VDS 的最低值

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:集电极电源极性,对于 N 沟道,设置为 (+DC),对于 P 沟道,设置为 (-DC)

            D:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VDS

            E:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的 ID

            F:步数,设置为最小值(零)

            G:阶梯信号发生器,设置为电压

            H:阶梯信号发生器极性,施加正向偏移(对于 N 沟道,为 +,对于 P 沟道,为 -)

            I:阶梯/偏移放大,设置为指定 VGS 的 50% 左右

            J:脉冲,设置为“长”       

            K:配置为(基极/阶梯信号发生器,发射极/共用)

            L:可变集电极电源,设置至最低百分比(完整 ccw)

            M:DotCursor,设置为 ON

2. 为 MOSFET 供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 VDS

3. 与数据表技术规格进行比较:

            A:检查 VDS/ID 是否小于或等于指定的最大值

泰克曲线追踪仪已停产。我们设计了更高效、更精确的方法和解决方案,以更紧凑的形状因子来支持曲线追踪功能。其中一种解决方案是使用双通道 SMU 或两个单通道 SMU 和软件来控制偏压阶梯信号的生成和相对漏源压降。要了解更多信息,请参阅“什么是 MOSFET 的漏源导通电阻?”常见问题。

如何计算 MOSFET 的跨导?

跨导是验证 MOSFET 在电力电子设计中的性能的关键测试。它能确保 MOSFET 正常工作,并在电压增益是电路设计的关键规格时,帮助工程师选择最佳的 MOSFET。这反过来又使公司能够更快地将功率半导体器件推向市场,同时最大限度地减少现场故障。

跨导是施加恒定漏源电压时,漏极电流 (ID) 与栅源电压 (VGS) 的比值。电流与电压之比通常称为增益。跨导是与 MOSET 的阈值电压 (VTH) 紧密相关的关键参数,两者都与栅极沟道的大小有关。通过 I-V 测量得出 MOSFET 的跨导的公式如下:

gm = ΔID / ΔVGS

如何测量 MOSFET 的跨导?

第一种配置中显示的方法需要三个 源测量单元 (SMU),这样可以将每个节点保持在反馈控制电压下,并同时测量每个电流。如果您没有足够的 SMU 通道来覆盖每个器件通道连接,可以按照第二个配置所示进行操作。应当注意,该配置更容易受到高噪声接地连接的影响,如果使用长电缆,可能会产生接地环路。此外,无法测量源极端子的电流和电压,这可能导致计算错误。

测量跨导

  1. 在所需范围内扫描栅极电压 (VGS),同时保持恒定的漏/源电压 (VDS)
  2. 以 VGS 的每个增量步长测量漏极电流 (ID)。
  3. 将电流 ID 的微小变化除以 VGS 的微小变化,即可计算出跨导 (gm)。

此处所示的红色图线显示了跨导 (gm) 和最大跨导值 (Vth)。

请了解有关安全、精确和快速测试 MOSFET 器件特性的更多信息。

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的零栅压漏电流?

答案:零栅压漏电流 - IDSS

什么是零栅压漏电流? 

零栅压漏电流是 VGS=0 时流过的 ID 电流。 在 MOSFET 耗尽模式下,零栅压漏电流为通态电流;在 MOSFET 增强模式下,为断态电流。

IV 曲线追踪仪上,集电极电源驱动漏极,栅极对源极短路,因此 VGS=0。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。 当 VGS=0 并应用指定的 VDS 时,如果 ID 小于或等于指定的最大值,则符合技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VDS 的最低值

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VDS

            D:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的 ID

            E:集电极电源极性,设置为 (+DC)(对于 N 沟道)或 (-DC)(对于 P 沟道)

            F:配置为(基极/短路,发射极/共用)

            G:可变集电极电源,设置为最低百分比(完整 ccw)

            H:DotCursor,设置为 ON

2. 为 MOSFET 供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 VDS

3. 与数据表技术规格进行比较:

            检查在指定的 VDS 下,ID 是否小于或等于指定的最大值

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的栅极阈值电压?

回答:栅极阈值电压 - VGS(th)

什么是栅极阈值电压? 

栅极阈值电压是指定少量 ID 流过时的最低 VGS。在 VGS = VDS 的条件下进行测试。

在曲线追踪仪上,集电极电源提供 VDS。 使用跳接线将栅极与漏极短路,使 VGS = VDS。

显示屏显示的内容:

在横轴上显示 VGS,在纵轴上显示得出的 ID。 在指定的 ID 下,当 VGS 在最小/最大限值范围内时,则符合技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VGS 的最低值

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VGS

            D:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的指定 ID

            E:集电极电源极性,设置为 (+DC)(对于 N 沟道)或 (-DC)(对于 P 沟道)

            F:配置,设置为(基极/开路,发射极/共用)

            G:可变集电极电源,设置为最低百分比(完整 ccw)

            H:DotCursor,设置为 ON

2:连接跳线:

            A:在接口区未使用一侧的基极和集电极端子之间连接跳线

            B:在夹具区未使用一侧的基极感应和集电极感应端子之间连接第二根跳线

3. 为 MOSFET 供电:

            A:将左/右开关定位在两个位置

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 ID 或最大阈值电压(以先到者为准)

4. 与数据表技术规格进行比较:

            检查栅极阈值电压是否在规定的最小/最大限值范围内

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的跨导 (gFS) 和正向导纳?

回答:跨导 (gFS) 和正向导纳

什么是跨导和正向导纳? 

跨导是 ID 与 VGS 的比值。 I/V 比通常称为增益。

在曲线追踪仪上,由集电极电源驱动漏极,由阶梯信号发生器驱动栅极。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。 在阶梯信号发生器提供栅极驱动的情况下,由于栅极驱动产生比例 ID,因此曲线将从横轴向上移动。在指定的 VGS 或指定的 ID 下,ID 与 VGS 之比等于或大于指定的最小值时,即满足技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VDS 的最低值

            B:峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低设置

            C:集电极电源极性,对于 N 沟道设置为 (+DC) 或对于 P 沟道设置为 (-DC)

            D:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的指定 VDS

            E:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的指定 ID

            F:步数,设置为最小值(零)

            G:阶梯信号发生器,设置为电压

            H:阶梯信号发生器极性,施加正向偏移(对于 N 沟道,为 +,对于 P 沟道,为 -)

            I:阶梯/偏移放大,设置为指定 VDS 的 1% 左右

            J:脉冲,设置为“长”       

            K:配置为(基极/阶梯信号发生器,发射极/共用)

            L:可变集电极电源,设置至最低百分比(完整 ccw)

            M:DotCursor,设置为 ON

2. 为 MOSFET 供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 VDS

3. 根据参数调整:

            按住“偏移辅助”,直到曲线出现明显的垂直位移。  有必要重新调整可变集电极 % 以保持 VDS。 继续交替调整步长偏移和 VDS,直至达到指定的工作点。

4. 计算跨导 (gFS):

             直接从光标读数中读取 gFS

5. 与数据表技术规格进行比较:

              检查值是否等于或大于指定的最小值

正向导纳是表示跨导的另一种方法,其测量方法是将曲线追踪仪设置为测量跨导(如上所述),将水平电压(伏/格)切换到 STEP GEN,使用 SWEEP 完成曲线,然后将光标切换到 F 线,并定位 F 线的斜率,直到它与曲线相切。

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的通态漏极电流?

回答:通态漏极电流 - ID(on)

什么是通态漏极电流?

通态漏极电流是通过指定的 VGS 使器件偏移到导通状态的 ID。 测量过程在器件的欧姆区(即线性区)进行。

在曲线追踪仪上,由集电极电源驱动漏极,由阶梯信号发生器驱动栅极。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。 在指定的 VDS 下,ID 大于或等于指定的最小值时,即符合技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VDS 的最低值

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:I:集电极电源极性,对于 N 沟道,设置为 (+DC) 或对于 P 沟道,设置为 (-DC)  

            D:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VDS

            E:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的 ID

            F:步数,设置为最小值(零)

            G:阶梯信号发生器,设置为电压

            H:阶梯信号发生器极性,施加正向偏移(对于 N 沟道,为 +,对于 P 沟道,为 -)

            I:阶梯/偏移放大,设置为指定 VGS 的 50% 左右

            J:脉冲,设置为“长”       

            K:配置为(基极/阶梯信号发生器,发射极/共用)

            L:可变集电极电源,设置至最低百分比(完整 ccw)

            M:DotCursor,设置为 ON

2. 为器件供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 VDS

3. 与数据表技术规格进行比较:

            A:检查 ID 是否等于或大于指定的最小值

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的漏源击穿电压?

答回:漏源击穿电压 - V(br)DSS

什么是漏源击穿电压?

漏源击穿电压是指在 VG = 0 时,指定 ID 流过时的 VDS。 由于它是通过夹断沟道的反向电流,ID 呈膝形上升,一旦发生击穿就会迅速上升。

在曲线追踪仪上,集电极电源驱动漏极,栅极对源极短路,因此 VGS=0。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。 在指定的 ID 下,VDS 大于或等于指定的最小值时,即符合技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定最小值的最低设置

     VDS

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VDS

            D:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的 ID                  

            E:集电极电源极性,设置为 + 泄漏(对于 N 沟道)或 - 泄漏(对于 P 沟道)

            F:配置为(基极/短路,发射极/共用)

            G:可变集电极电源,设置为最低百分比(完整 ccw)

            H:DotCursor,设置为 ON

2. 为 MOSFET 供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 ID

3. 与数据表技术规格进行比较:

            检查在指定的 ID 下,VDS 是否大于或等于指定的最小值

如何在曲线追踪仪上测试 MOSFET 的正向栅极主体漏电流?

答案:零栅压漏电流 - IDSS

什么是零栅压漏电流?

零栅压漏电流是 VGS=0 时流过的 ID 电流。 在 MOSFET 耗尽模式下,零栅压漏电流为通态电流;在 MOSFET 增强模式下,为断态电流。

在曲线追踪仪上,集电极电源驱动漏极,栅极对源极短路,因此 VGS=0。

显示屏显示的内容:

显示屏在横轴上显示 VDS,在纵轴上显示得出的 ID。 当 VGS=0 并应用指定的 VDS 时,如果 ID 小于或等于指定的最大值,则符合技术规格。

操作方法:

1. 设置控件:

            A:最大峰值电压(伏),设置为高于指定 VDS 的最低值

            B:最大峰值功率(瓦),设置为满足 (ID x VDS) 的最低值

            C:水平电压/格,显示第 5 和第 10 个水平格之间的 VDS

            D:垂直电流/格,显示第 5 和第 10 个垂直格之间的 ID

            E:集电极电源极性,设置为 (+DC)(对于 N 沟道)或 (-DC)(对于 P 沟道)

            F:配置为(基极/短路,发射极/共用)

            G:可变集电极电源,设置为最低百分比(完整 ccw)

            H:DotCursor,设置为 ON

2. 为 MOSFET 供电:

            A:根据情况定位左/右开关

            B:缓慢增加可变集电极电源的百分比,直至达到指定的 VDS

3. 与数据表技术规格进行比较:

            检查在指定的 VDS 下,ID 是否小于或等于指定的最大值