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适用于下一代内存设计的高级一致性测试和调试解决方案


随着内存技术不断演变,以满足各种应用要求,每一代新技术都带来了更高的速度、以改进性能,降低I/O电压、以降低能耗,同时支持各种外形,以满足不同的应用需求。这些因素产生了许多调试和验证挑战,因为其要求大量的新的、更加复杂的测试,验证和调试运行余量更紧张、边沿速率更快、并采用复杂总线协议的器件。
第一部分将重点介绍使用完善的工具集,如泰克示波器上提供的可视触发、DDRA应用软件,对内存接口执行电接口验证。本研讨会还将讨论模拟验证使用的各种探测解决方案,以及准确表示信号所需考虑的因素。
第二部分将重点介绍使用逻辑分析仪及内存一致性测试分析仪对内存总线执行逻辑和协议验证,以及其在测试覆盖范围及功能方面有什么差异。本研讨会还将讨论各种探测解决方案以及怎样使用一只探头,同时利用逻辑分析仪和MCA探测信号。