新一代芯片运行速度提高了一倍,余量不断缩小,眼图闭上,不可能在想要的测试点上进行探测。为准确地进行测量,必须去掉不理想的探测点、夹具和电缆引起的反射、交叉耦合及损耗。仿真和测量结果之间不匹配,进一步提高了复杂性,必需准确地建立芯片接收机均衡模型。SDLA可视化器和DPOJET提供了深入的洞察能力和分析功能,可以准确地测量来自DUT的真实信号,同时使用DPO/DSA/MSO70K系列示波器,去掉探头、测试夹具或电缆引起的不想要的假信号。
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