计算机，通讯以及嵌入式系统调试以及验证解决方案

本演讲主题介绍包括物理层、链路层和数据层测试挑战及泰克为简化和改进当前最关键的串行标准检定、检验和一致性测试推荐的解决方案。演讲覆盖泰克公司示波器，逻辑分析仪，信号发生器等多款优秀产品，范围涉及高速/低速串行数据测量PCIE,USB,SATA/SAS,HDMI/DP，CAN/LIN, I2C等等), 复杂的RF设计问题, 嵌入式系统测试挑战和日益提高的FPGA调试复杂度、电源设计难度等等。