以精准测量,定义芯片未来边界

泰克科技携最新一代半导体测试解决方案重返成都。聚焦宽禁带半导体、AI算力电源架构、高速SerDes接口等前沿领域,为本地工程师提供从器件特性分析到系统级验证的全链路实战方案。现场将展示全新7系列高性能示波器,MP5000模块化精密测试系统等新品。诚邀“芯“朋友亲临现场,感受泰克带来的高效测试!

时间:2026年4月2日 周四 13:00—17:00
地址:成都新希望高新皇冠假日酒店 蜀榕厅(四川省成都市新西区西芯大道1号 )

会议日程:

  • 13:00 - 13:30 签到
  • 13:30 - 13:40 开场
  • 13:40 - 14:20 宽禁带半导体全流程测试:从器件特性到电源开发的精准验证 (泰克技术专家:黄正峰)
    - 围绕SiC/GaN功率器件的动态开关损耗、栅极可靠性、热特性等关键参数,构建从器件级到电源开发应用验证的全链路测试体系,提供符合JEDEC/AQG标准的精准且高效的测试方法。
  • 14:20 - 15:00 智算中心电源架构设计与验证:应对高密度算力的供电挑战 (泰克业务拓展经理:钱明澄)
    - 本专题将深入探讨48V/54V母线架构、动态负载响应、多相供电协同等关键技术,并提供从仿真设计到实测验证的完整解决方案,为高可靠性智算基础设施构建坚实供电基础。
  • 15:00 - 15:30 茶歇
  • 15:30 - 16:10 新一代高速串行标准解读与信号完整性实践:直面物理 AI的高速互联技术 (泰克技术经理:刘剑 )
    - 解读最新协议更新要点。基于PCIe 6.0/7.0、UCIe、224G以太网物理层标准,提供从发射端眼图测试、通道损耗建模到接收端均衡优化的全链路验证方案,涵盖BERT测试、抖动分解、串扰分析等关键技术环节。
  • 16:10 - 16:50 芯片电源完整性深度优化:从芯片到系统的能效突围 (泰克技术专家:张文超)
    - 聚焦芯片制程升级带来的测试挑战,覆盖输出/环路/输入/功率级全环节测试,搭配专属探头、示波器及自动化测试软件,实现高精度、高带宽的PI测试,保障单板稳定工作。
  • 16:50 - 17:00 抽奖

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