S500

parametric-test-systems

概述

技术指标

S500 Integrated Test System with source measure units

主要特性

全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格，包括 subfemtoamp 测量，确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV（电荷陷阱分析）和 PIV 扫描（自加热回避）的脉冲生成和超快 I-V。
利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器，提供低或高通道数系统，包括并行测试。
适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。

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