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弱电流测量

电容器漏电的测量;半导体器件和晶圆片、MOSFET和PIN光电二极管的电流测量;PMT的光测量;APD反向电流测量、离子束电流测量,以及CNT的IV特性等的实例介绍。

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推荐仪器

高阻测量

使用静电计或皮安计来测量印制电路板的表面绝缘电阻,其典型范围在107Ω到1016Ω;绝缘材料电阻率的测量,包括体电阻率和表面电阻率;四探针技术和范德堡技术进行半导体电阻率的测量;高值电阻器电压系数的测量。

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推荐仪器

高源内阻电压测量

使用SMU和静电计确定电容器的介电吸收性能;电化学实验中使用静电计进行pH值的测量和用离子选择电极确定特定离子的浓度,还用来测量液体的电导率。

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推荐仪器

电荷测量

使用静电计的库仑功能和步进电压源来测量电容;使用法拉第杯测量物体上的静电荷。

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推荐仪器

低电压测量

标准电池的比对;使用温度传感器及纳伏表测量高分辨率的温度和微热量;利用六段平衡桥测量霍尔电压和电阻率。

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推荐仪器

Keithley公司结合自身在测量领域数十年来积累的领先理论和实践经验,贡献了“低电平测量手册”一书,供业内人士了解如何正确进行低电平测量,以达到对微弱电信号进行捕获和定量分析的目的。手册包含了比较严谨的测量术语定义、误差来源分析和消除或避免误差的方法,同时还给出了典型的应用实例,是现学现用的典范。

成功案例

中山大学半导体材料与器件特性表征实验室

  • 测试功能强大,直接绘制IV曲线
  • 测试精度高,可以测到晶圆级器件
  • 简便易用,方便快捷

2450源表具备的5英寸高分辨率电容触摸屏图形用户界面可以帮助老师和学生直接可以在前面板进行参数设置,并显示IV曲线。

南京大学薄膜晶体管和半导体材料测试

  • 多路测试
  • fA量级的电流分辨率
  • 性价比高

多路的SMU测试和fA量级的电流分辨率,通过2612B源表来加背栅和源的电压,同时通过2636B源表来回读低电流信号。

3D传感提供测试测量解决方案

“源”确保人脸识别系统的安全应用,吉时利为iphone人脸识别提供测试测量解决方案。

2601B源表拥有输出10μs电流脉冲性能,无需手动调谐测试您的VCSEL,确保设备安全。

为Tesla提供提高电池寿命测试方案

吉时利如何帮助Tesla提高电池的使用寿命。

源表和测试软件配合,轻松完成库伦效率测试。测试工程师可以快速掌握电池老化特性,大幅度提升电池验证速度。