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半导体设计和制造 – 泰克半导体测试方案

助力您的半导体设计更快上市

泰克及旗下吉时利品牌,提供从晶元到系统的专业半导体测试方案。包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。

  • 半导体材料测试平台包括:

    针对晶元级半导体材料或半导体器件,泰克提供半导体参数分析仪(4200A-SCS),用于测试分离器件、材料的三大特性:1、直流特性,如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等; 2、电容电压特性CV曲线(CVU);3脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。

    针对高功率半导体材料或半导体器件,泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪(2600B-PCT),或称晶体管曲线追踪仪,支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

  • 半导体工艺测试平台包括:

    针对大规模测试,如晶元上多点测试,复杂系统的自动化测试,泰克提供自动化半导体参数测试系统(S500/S530/S540),支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试(FA),质量控制测试(QA),可靠性分析测试(RA)。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。

  • 芯片设计测试平台包括:

    针对高速串行芯片设计,泰克提供完整的发送端测试解决方案,配备高带宽实时示波器、各种探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等,支持的标准覆盖各类常用标准,包括:PCIE/DDR/USB/ETH等等。

  • 芯片验证测试平台包括:

    针对高速串行芯片设计,泰克提供完整的接收端容限测试解决方案,配备高速误码率分析仪,及一致性测试夹具、一致性测试软件等,支持的标准覆盖各类常用标准。