新的半导体材料如 SiC 和 GaN，在开发期间常常引入特别的挑战。
- 直流半导体检定需要全面的 I-V、C-V 和快速脉冲式测量。
- 测试高功率半导体器件时需要更高的电压和功率水平、更快的切换时间、更高的峰电流和更低的漏电流。
- 半导体生产环境需要自动化、探测站集成、速度和吞吐量进行芯片分选、晶片验收和可靠性测试。
高速数字接口需要更短的 PHY 验证周期。更快地调试、协议解码和识别源信号中的串扰等抖动和噪声，是设计师的最大需求。
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特色内容
推荐设备
- Keithley 源测量单元 (SMU)：高速而准确地提供电流或电压源并同时提供测量。
- Keithley 参数分析仪：执行 I-V 和 C-V 测量扫描、超快脉冲和瞬态 I-V 测量
- 示波器：全球每 10 位工程师中就有 8 位信赖泰克示波器可以帮助他们更快地调试和测试未来的设计
码型数据库
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| Current/Voltage Made Accurate and Simple | In our webinar we look at ten common applications, from LEDs and Laser Diodes to measuring power efficiency of power management ICs and solar cells. |
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