功率器件的标定及选择

Safe, precise, fast MOSFET testing

功率器件的标定及选择

对 Si、SiC 和 GaN 器件进行安全、精确的测试

缩短功率半导体设备的上市时间

由于可以在较高频率、电压和温度下工作且功率损耗较低,宽禁带半导体(例如 SiC 和 GaN)现在配合传统硅一同用于汽车和 RF 通信等严苛应用中。但是,随着效率的提高,传统硅设计在许多市场广阔的应用中保持强大的价值主张。让功率半导体设备更快上市并尽量减少设备现场出现的故障。

验证SiC、GaN宽禁带器件特性

新型宽禁带半导体器件GaN Sic越来越广泛的被应用在电源产品中。当测试高压测Vgs导通电压时,因为频率高(快速开、关)以及示波器探头在高带宽下的共模抑制不够而导致不能准确测试。共模抑制差导致测量受到共模电压干扰而很难准确测试实际的差分信号。泰克提供全面光隔离探头(ISOVu)配合高达12bit新五系示波器MSO5 成为业内唯一解决方案,高达1GHz的系统带宽满足 GaN 和 SiC。

此外,还需注意在较高开关频率下对探头电容的影响。探头电容过高将导致上升沿在测量中变缓,从而导致错误的评价高频开关特性。另外,将探头接入极灵敏的浮动门电路信号中,可能导致电容充电产生的瞬态信号损坏设备。ISOVu 探头的低电容也尽量减少门电路上的探头电容问题和瞬态信号损坏设备的风险。

凭借泰克全新5系示波器及 IsoVu 探头,可以准确捕获高侧门电路电压波形,以便评估和优化开关性能和可靠性,而不降低 dV/dt。

典型“开”状态测量设置。

高功率器件测试

8010 大功率设备测试夹具实现安全、轻松连接,以便测试高达 3 kV 或 100 A 的大功率设备。

手动检定晶片和封装零件级设备的电气性能需要学习新技术、设备和低电平测量的探测基础设施(例如,在存在高击穿电压时测量 pA 泄漏电流)。获得高达 100A 的电流和高达 3000V 的电压并使用 Keithley 功率设备测试解决方案优化“开”状态、“关”状态和电容测量间通常复杂且耗时的设置变化。

安全地设置测试

8010 大功率设备测试夹具实现安全、轻松连接,以便测试高达 3 kV 或 100 A 的大功率设备。

您也需要安全设置高压测试并迅速获得结果。手动进行设计需要具有编程专业知识以及设计和创建满足安全要求的系统的能力。您无需自己动手。使用 8010 型大功率设备测试夹具即可安全、轻松连接,以便测试高达 3000V 或 100 A 的封装零件。进行常见 I-V 测试轻松且快速,无需使用 ACS-BASIC 进行编程。

4200A-SCS 参数分析仪。

设备检定加快 2 倍,缩短上市时间

对于需要较小功率包络的设备,例如传统 Si 和 GaN 设备,使用可以自动完成高达 200V 和 1A 的所有检定测试的 4200A 参数分析仪来快速获得结果,以便满足上市时间要求。

凭借 IsoVu 探头,可以准确捕获高边门电路电压波形,以便评估和优化开关性能和可靠性而不降低 dV/dt。

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