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电源原型版的设计的关键测试

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电源原型版的设计的关键测试

泰克让工程师对每次测试结果都有信心和把握

对于电源设计系统的评价,测试设备是否能可靠地,准确的反应真实的信号特点是工程师非常关注的问题,担心某一次测试带来误导。

示波器是电源设计最常用的仪器,主要用于进行电源设计验证,一般要对输入输出电压或者电流的波形进行测试,判定其频率,幅值或者相位是否和设计相符合。

环路响应优化

工程师需要花很多的时间和精力在电源的完整性上面(PDN),除了我们经常提到的开关损耗、输入电源质量、输出纹波测试等以外,通过环路响应测试可以知道了解我们的反馈环路的稳定性到底如何?

泰克基于示波器集成了环路响应测试功能,给开关电源电路注入一个频率变化的正弦信号,测量开关电源在频域上的特性,需要通过分析增益余量和相位余量来判断环路是否稳定。

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环路响应测试曲线(BODE Plot)

开关损耗测试

作为开关电源做主要的器件,MOSFET和IGBT成为影响电源整体效率最主要的因素,不同的应用中,驱动条件不同,功耗千差万别,如何能量化评价在真实电源中的损耗成为非常在意的问题。

泰克MSO5系列示波器,其硬件12bit ADC高精度测试,全新优化的开关损耗算法,提供全套方案。可测试开点Turn-on loss ,传导Conduction loss,闭点Turn-off loss。

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开关电压及电流级损耗波形

磁损耗测试

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如何评价磁性器件对电源稳定性和整体效率的影响?如何测试电感,磁损,BH曲线,磁性属性等指标是摆在工程师面前的难题。泰克示波器基于其硬件12bit ADC 高精度测量,全新优化的磁损耗算法,提供全套方案,高达8通道支持多种变压器类型。对于电源产品设计初期要自己来绕变压器来满足设计,测试其不确定性,避免出现饱和炸管的情况,专用的测试设备非常昂贵,泰克为大家提供了一种新的评测方法。

宽禁带半导体器件GaN, SiC

第三代宽禁带半导体器件GaN,SiC 出现,推动着功率电子行业发生颠覆式的变革。新型开关器件技能实现低开关损耗,又能处理超高速的dv/dt转换,且支持超快速的开关切换频率,带来的测试挑战也成了工程师的噩梦。

泰克推出带宽高达1Ghz,最高2500V差模,高达120dB共模抑制比,全面光隔离探头。结合MSO5 12bit 高精度示波器,提供了系统优异抗干扰能力,帮助工程师进行第三代半导体器件的系统级优化设计。帮助工程师在设计电源产品时,优化上下管的驱动条件,从而保证安全的条件下降低损耗,提高转化效率。

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输出纹波测试

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电源输出质量是电源评价重要的一环,尤其对于DC输出,不但要测试电压,电流大小,还要对输出的纹波进行准确的测试,尤其对于某些特殊的电源,纹波需要控制在很小的范围,如何准确测试微小的纹波信号非常棘手。

泰克MSO5示波器其硬件12bit ADC高精度测试能力结合专用的纹波探头TPR系列探头,最低噪声200uV ,高达4GHz带宽的可测试mV级微小纹波,并且结合频谱分析功能,可以洞察纹波的信号组成。

在其他功率应用中是否面临挑战?

Title
Making Microsecond Pulse and AC Measurements with the S530 Parametric Test System by Integrating 4200A-SCS Parameter Analyzer Applications
This application note describes how to generate microsecond pulsed I-V sweeps and tests, as well as make AC impedance measurements, with the S530 Parametric Test System by calling built-in user …