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TDR阻抗测量及高速标准接口测试方案


TDR时域反射计是一种通用的阻抗测量仪器,广泛应用于PCB、电缆、连接器、IC封装等生产和研发领域。随着计算机和通信系统中串行总线速度的不断提 高,如何快速准确地验证PCB走线的特征阻抗和传输损耗等指标是否达到设计要求,成为了高速数字电路设计人员必须关注的问题。泰克的采样示波器 DSA8300和IConnect®软件为评估千兆位互连链路和设备性能提供了高效、简便易用、经济的解决方案,具有阻抗、S参数、眼图预测、建模仿真等 信号完整性分析功能;满足如Intel Romley平台QPI、PCIE G3等高速传输线插入损耗等测试的要求。此外,本讲座还将从实现和验证角度概括介绍各种接口标准化测试的发展趋势,以及泰克为简化转向这些技术提供的解决 方案,涵盖Thunderbolt、SATA、PCI Express 3.0、SAS 12G和10G KR,DDR, USB3.0, HDMI1.4及将要发布的2.0, MHL, DP1.2, MIPI等等。