Thunderbolt是一种新型I/O技术，通过一个端口支持存储设备和显示设备。它在10 Gb/s速率下，把PCI Express和DisplayPort组合到一个串行数据接口中，同时与现有的DisplayPort显示器互操作。最新推出的rev0.7 Thunderbolt规范增加了新的信号分析要求，包括扩频时钟(SSC)以及串扰评估中的有界不相关抖动(BUJ)，并扩大了接收机容限测试要求。本讲座将概括介绍Thunderbolt接口，并处理主要挑战，如串扰、反嵌和抖动分析，以改善系统互操作能力。首先，您将了解我们为快速简便地完成一致性测试所提供的自动化测试工具，然后您将了解多种小提示和技巧，解决与Thunderbolt和DisplayPort设备有关的棘手的信号完整性问题。
新一代SATA/SAS(TX/RX)面临的新的测试挑战
企业数据中心和消费存储应用的迅猛增长，正推动着对更高性能的存储系统的需求。传统硬盘及新一代固态存储解决方案依托带宽更高的I/O，满足不断增长的数据吞吐量需求。与上一代技术相比，12 Gb/s串行连接SCSI(SAS)把吞吐量翻了一番，同时也增加了新的挑战，为保证系统互操作能力，必须解决这些挑战。本场会议将为您提供12 Gb/s SAS物理层测试的最新动态。您将更好地了解多种设计挑战，如串扰最小化和均衡/链路分析，了解帮助加快新型SAS器件验证的新型工具。此外，我们将介绍串行ATA (SATA)物理层测试及新兴应用使用的最新测试工具，如SATA Express和非易失性快速存储器(NVME)。
100Gb/s(4x25G)及以上速率的发射机和接收机测试
本课程将概括介绍从10G标准转向25/28G的标准，在背板以太网、互连OIF/CEI VSR和MSR中如何实现100 Gb/s速率。还将介绍使用泰克采样示波器进行25 Gb/s和28 Gb/s光接口和电接口的发射机(TX)测试，使用BERTScope在接收端(RX)上进行BER测试。对于接收机（RX）测试，我们将介绍，如何在BERTScope上生成压力眼图；如何在光系统中进行电光转换。如何使用采样示波器校准压力眼图。此外，我们还将谈到怎样支持元器件测试，如28G ROSA/TOSA BER测试，包括IEEE 802.3ba、802.3bj等标准，超低抖动采样示波器，带有电接口模块和光接口模块等内容.
存储器设计检验和调试技术(DDR4/LPDDR/SATA Express/UHS-I/II)
LPDDR3和DDR4的电接口检验测试和调试带来了传统DRAM结构测试所不能解决的新型挑战。您将了解多种新工具，如可视触发技术，帮助您调试复杂设计，真正了解问题区域。DDR4带来了工作电压仅1.2V、高达4266MT/s的高数据速率以及新的测试挑战。密集封装的DIMM给信号访问带来了多种挑战。您将了解多种测量方法和技术，解决LPDDR3独有的挑战：LPDDR3实现技术中高密度电路板布线的信号接入和探测；触发突发LPDDR3，进行高效调试和测试配置。
吉时利大功率器件参数分析系统
吉时利创新的大功率器件参数分析系统，结合了晶体管图示仪与参数分析仪的精度和灵活性的特点，提供高功率器件MOSFETs, BJTs, triacs, diodes, IGBTs 等设计与开发应用所需的功率，高达3,000V和100A。具有高度灵活性和易用性的7种完整方案，满足客户对不同器件类型，不同电压、电流和功率的广泛测试需求。
吉时利大功率HB-LED 的测试方案
可靠、准确的电气测量对于高亮度LED的量产至关重要，因此准确理解LED的电气测量原理非常关键。通过参加此研讨会，您将了解和理解LED和HB-LED的常见测试项目，以及测试测量挑战，包括LED自热效应以及如何避免自热效应，如何将正向电压与结温联系起来，噪声在正向电压测量中的影响，直流和交流LED测试之间的差别等专业问题。
新材料 新挑战 新测试 新方案 - 吉时利材料电学特性分析系列
通过参加此研讨会，您将了解经典的吉时利微弱信号测试理论与应用， 完整的精密太阳电池测试方案，光电器件测试方案，测量石墨烯霍尔栅条方法，以及使用吉时利产品轻松实现DC、I-V、C-V和脉冲测试测量，表征新材料、新器件的电学特性。
吉时利半导体特性参数分析系列产品介绍
吉时利半导体特性参数系列，包括台式全系列SMU，4200-SCS半导体特性分析系统和S530型全自动参数测试系统。从亚fA电流分辨率的精密测试到100A的大电流高功率测试应用，从低功率电子产品到高功率3000V，100A的测试应用，从器件特性分析，材料特性分析，到晶圆级可靠性分析， 吉时利的半导体特性参数分析系列，包括最新的大功率参数测试系统（PCT）产品，将更全面的覆盖半导体参数测试的应用。