- 全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格,包括 subfemtoamp 测量,确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
- 适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV(电荷陷阱分析)和 PIV 扫描(自加热回避)的脉冲生成和超快 I-V。
- 利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器,提供低或高通道数系统,包括并行测试。
- 适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
- 开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。
联系我们
与泰克代表实时聊天。 工作时间:上午 9:00 - 下午 5:00(太平洋标准时间)。
电话
致电我们
工作时间:上午9:00-下午5:00(太平洋标准时间)
下载
下载手册、产品技术资料、软件等:
反馈
