S540

概述

技术指标

S500 Integrated Test System with source measure units

主要特性

全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格，包括 subfemtoamp 测量，确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV（电荷陷阱分析）和 PIV 扫描（自加热回避）的脉冲生成和超快 I-V。
利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器，提供低或高通道数系统，包括并行测试。
适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。

} catch (e) { console.log(e); } //END Localized Script Definition Section //Gygia Scritps var gigyaConfig = { errorMessage: 'Sorry an error occurred.', id: 'cn', loggedInRedirectUrl: '', logoutRedirectUrl: '', debugMode: false, authenticated: false, getInfoRequired: false, enableSSOToken: true }; function loadGigya(callback) { $.ajax({ url: "//cdns.us1.gigya.com/js/gigya.js?apiKey=3_IYZagza7TlTgVAPbBL2o3IohZY76BI16h9VaARthfWKZfs4LFhDVRys76qIoh-SN&lang=zh-cn", dataType: "script", async: true, cache: true }).done(function() { console.log("GYA: loaded for zh-cn."); _loadGigyaCMS(callback); }).fail(function() { console.error("E13987: GYA load failed."); }); } function _loadGigyaCMS(callback) { $.ajax({ url: "/scripts/gigya/gigya-cms.min.js?v=9.1.0015646", dataType: "script", async: true, cache: true }).done(function () { if (typeof gigya !== 'undefined') { console.log("GYA: isDefined."); if (window.tekFn.showGigyaLoader) { gigya.accounts.addEventHandlers({ onLogout: window.tekFn.showGigyaLoader }); console.log('GYA: evAdded.'); } typeof callback === 'function' && callback(); } else { console.error('E13984: GYA is undefined'); } }).fail(function () { console.error("E13989: GYA.cms load failed."); }); } window.gigyaConfig ={"lang":"zh-cn","enableSSOToken":true,"sessionExpiration":-1} //END Gygia Scritps }