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验证高性能计算架构
了解我们的解决方案如何帮助您加快带宽和数据速率扩展的信号和电源完整性测试，以及验证高内存带宽和符合 JEDEC 标准的 DDR 架构。
人工智能数据中心测试应用
电力输送网络 (PDN) 验证
人工智能设计还需要坚如磐石的电源完整性。在低于 1 V 的电压轨上提供数百安培的电流，同时将噪声和瞬态干扰降至最低，是实现确定性能的基础。Tektronix 示波器和探头可实现 PDN 阻抗和瞬态特性分析、高电流轨测量和分析，以及功率事件与数据路径行为的关联。
在紧迫的时间窗口内实现掩膜合规性
泰克解决方案使工程师能够直接在高速存储器接口上测量和验证 DDR 时序裕量。利用先进的眼图和时序分析，设计人员可以确保信号不超出 JEDEC 定义的掩码范围，同时考虑到实际的通道损耗、反射和互连变化。随着内存速度的提升，这对于保持数据完整性和系统可靠性至关重要。
发射机和接收机合规性测试
泰克示波器与自动化 DDR 合规工作流程相结合，简化了 DDR 发射机和接收机的验证过程。
工程师可以进行 TX 符合性测试，以确保内存模块在要求的电压和时间窗口内驱动信号；还可以进行 RX 符合性测试，以验证内存控制器在最坏情况下正确采样输入数据。