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下一代数字接口标准(串行、内存、显示等)会推动一致性和诊断工具的限制,产生高速 Tx 和 Rx 设计挑战,包括:
    •  因设备体积较小而造成的有限信号访问
    •  具有新的节能方案的总线行为
    •  使用信号接口验证新的信号编码和均衡能力
    •  电子验证测试太多,时间太少!

泰克提供的自动测量套件可加快 PHY 验证周期,并保证一致性。当一致性测量未通过时,可使用协议解码、可视化触发等工具来加速调试。在来源中确定抖动和噪声,如串扰或其他多通道噪声耦合。

泰克方案帮助您解决USB,MIPI和DDR3高速接口标准测试时面临的设计挑战。

超低噪声、超高分辨率、完美支持MIPI/DDR/USB……

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